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Die pulslaser-induzierte thermische Elektronenemission als intensive Quelle und oberflächensensitive Sonde in der zeitauflösenden Elektronenmikroskopie

Die pulslaser-induzierte thermische Elektronenemission als intensive Quelle und oberflächensensitive Sonde in der zeitauflösenden Elektronenmikroskopie1994

Bernd Schäfer

Details

First published
1994
OL Work ID
OL37080303W

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