Die pulslaser-induzierte thermische Elektronenemission als intensive Quelle und oberflächensensitive Sonde in der zeitauflösenden Elektronenmikroskopie
Die pulslaser-induzierte thermische Elektronenemission als intensive Quelle und oberflächensensitive Sonde in der zeitauflösenden Elektronenmikroskopie1994
Details
- First published
- 1994
- OL Work ID
- OL37080303W