Untersuchungen an ionenimplantierten Kontakten in Silizium- und Germanium-Einkristallen sur Herstellung von Halbleiter-Sperrschichtzahlern
Untersuchungen an ionenimplantierten Kontakten in Silizium- und Germanium-Einkristallen sur Herstellung von Halbleiter-Sperrschichtzahlern
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- OL Work ID
- OL42183450W